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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108195323A(43)申请公布日2018.06.22(21)申请号201810265694.X(22)申请日2018.03.28(71)申请人中冶建工集团有限公司地址400084重庆市大渡口区西城大道1号(72)发明人魏奇科谷军王维说王振强宋春芳方蒙廖小辉陈豪(74)专利代理机构重庆博凯知识产权代理有限公司50212代理人周辉(51)Int.Cl.G01B11/30(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图3页(54)发明名称一种墙面平整度测量方法(57)摘要本发明公开了一种墙面平整度测量方法,包括支撑架,安装在支撑架上的直线驱动机构,直线驱动机构包括整体呈长条状的底板,底板通过水平设置的第一转轴可转动地安装在支撑架上;直线驱动机构还包括沿长度方向安装在底板上的导轨以及配合在导轨上的滑座,滑座上安装有用于沿水平方向进行测距的激光测距仪,支撑架上还安装有用于驱动滑座滑动的驱动装置;还包括用于控制激光测距仪进行激光测距并采集测距数据的测距控制器,以及用于控制驱动装置驱动滑座匀速滑动的驱动控制器,测距控制器和驱动控制器均电连接至测控计算机。本发明具有结构设计合理,操作使用方便,有利于提高测量精度和测量效率,降低操作者劳动强度等优点。CN108195323ACN108195323A权利要求书1/2页1.一种墙面平整度测量方法,其特征在于,包括如下步骤:A、先获取如下结构的测量装置,包括支撑架(1),安装在所述支撑架(1)上的直线驱动机构(2),所述直线驱动机构(2)包括整体呈长条状的底板(21),所述底板(21)通过垂直于其长度方向设置的第一转轴可转动地安装在所述支撑架(1)上,所述第一转轴沿水平方向设置,使所述底板(21)能够在竖向平面内转动;所述直线驱动机构(2)还包括沿长度方向安装在所述底板(21)上的导轨(22)以及可滑动地配合在所述导轨(22)上的滑座(23),所述滑座(23)上安装有用于沿水平方向进行测距的激光测距仪(3),所述支撑架(1)上还安装有用于驱动所述滑座(23)沿所述导轨(22)滑动的驱动装置(24);还包括用于控制所述激光测距仪(3)进行激光测距并采集测距数据的测距控制器,以及用于控制所述驱动装置(24)驱动所述滑座(23)匀速滑动的驱动控制器,所述测距控制器和驱动控制器均电连接至测控计算机;B、将上述测量装置放置的待测墙面所在房间的中部,使所述激光测距仪朝向待测墙面,将底板绕第一转轴转动到待测方向并保持固定;以匀速度v驱动滑座在导轨上滑动,同时,从导轨的一端开始,控制所述激光测距仪进行连续测距,并记录在时间Tn时的测量距离Sn;C、补偿测量距离Sn′:将导轨的起点位置处的距离记为S起,最后测得的距离记为S终,且S终对应的的时间为T终;则激光测距仪的移动轨迹与待测墙面之间的夹角为从而可以计算出激光测距仪在平行于待测墙面的移动轨迹上各点所测出的距离Sn′为:将所得到的Sn′的最大值与最小值之差确定为测量出的平整度。2.如权利要求1所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述驱动装置(24)包括沿长度方向安装在所述底板(21)上的齿条(241),所述齿条(241)与所述导轨(22)相平行;还包括固定安装在所述滑座(23)上的电机(242),所述电机(242)的输出端安装有与所述齿条(241)相啮合的齿轮(243),所述电机(242)电连接至所述驱动控制器。3.如权利要求2所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述齿条(241)的齿沿背离所述导轨(22)的方向设置,所述电机(242)沿垂直于所述底板(21)的方向安装在所述滑座(23)的侧面。4.如权利要求2所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述驱动装置(24)还包括与所述导轨(22)相平行地安装在所述底板(21)上的光栅尺,所述光栅尺电连接至所述驱动控制器。5.如权利要求1所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述支撑架(1)包括位于底部的底座(11)以及通过竖向设置的第二转轴可转动地安装在所述底座(11)上的转台(12);所述底板(21)通过所述第一转轴可转动地安装在所述转台(12)上。6.如权利要求5所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述支撑架(1)还包括竖向设置的可伸缩的升降杆(13),所述升降杆(13)安装连接在所述底座(11)和所述转台(12)之间。2CN108195323A权利要求书2/2页7.如权利要求1所述的墙面平整度测量方法,其特征在于,所述第一转轴沿所述底板(21)的宽度方向设置,且位于所述底板(21)的长度方向的中部位置;所述第一转轴的两端伸出所述底板(21),并铰接在所述支撑架(1)上;所述激光测距仪(3)的测距方向与所述底板(21)的宽度方向一致