x射线衍射线形分析技术的发展及应用论文.doc

X射线衍射线行分析技术的发展及应用[摘要]X射线衍射技术的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的分析方法物质结构的分析。尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法,但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段,而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法.x射线线形分析经常用于获得镶嵌块尺寸和微观应变这两个重要的微观结构参量。从70年代以来，随着高强度X射线源（包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源）和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。本文着重介绍X射线衍射技术的原理,以及其应用方面,简单介绍X射线衍射技术的发展及未来趋势.[关键词]X射线衍射线形分析技术;半高宽;近似函数法;位错目录HYPERLINK\l"文本文档1"一、X线衍射线形的构成1HYPERLINK\l"文本文档2"（一）衍射线的线形1HYPERLINK\l"文本文档3"1.图形法1HYPERLINK\l"文本文档4"2.近似法1HYPERLINK\l"文本文档5"3.重心法2HYPERLINK\l"文本文档6"（二）衍射线的强度2HYPERLINK\l"文本文档9"（三）衍射线的宽度2HYPERLINK\l"文本文档10"1.峰高强度2HYPERLINK\l"文本文档11"2.积分宽度2HYPERLINK\l"文本文档12"3.方差2HYPERLINK\l"文本文档13"二、衍射线形分析方法基础2HYPERLINK\l"文本文档14"（一）实测线形与真实线形2HYPERLINK\l"文本文档15"1.实测线形2HYPERLINK\l"文本文档16"2.真实线形3HYPERLINK\l"文本文档17"（二）的双线分离2HYPERLINK\l"文本文档18"1.图形分离法3HYPERLINK\l"文本文档19"2.Rachinger分离法3HYPERLINK\l"文本文档20"3.付里叶级数变换分离法4HYPERLINK\l"文本文档21"（三）利用校正曲线获得I1(2θ)线宽4HYPERLINK\l"文本文档22"（四）吸收因子温度因子角因子的影响5HYPERLINK\l"文本文档23"1.吸收因子的校正5HYPERLINK\l"文本文档24"2.温度因子的校正6HYPERLINK\l"文本文档25"3.角因子（洛伦兹-偏振因子）的影响6HYPERLINK\l"文本文档26"（五）仪器宽化效应6HYPERLINK\l"文本文档27"1.衍射仪的权重函数6HYPERLINK\l"文本文档28"2.衍射线形的卷积关系6HYPERLINK\l"文本文档29"3.仪器宽化效应的分离（由B值求β值）8HYPERLINK\l"文本文档31"三、X线衍射线形分析方法的应用14HYPERLINK\l"文本文档32"（一）晶体结构点阵畸变及储能14HYPERLINK\l"文本文档33"（二）位错密度15HYPERLINK\l"文本文档34"（三）晶粒尺寸测定及分布16HYPERLINK\l"文本文档35"四、x射线衍射线形分析方法的未来发展趋势17HYPERLINK\l"文本文档36"致谢18HYPERLINK\l"文本文档37"参考文献19似的吃过饭PAGE\*MERGEFORMAT0一、X射线衍射线线形的构成[1]将样品用衍射仪扫描得到原始数据，可以做出x射线衍射的原始图形，也就是衍射线强度按衍射角2θ角分布的线形。当衍射峰比较尖锐时，作连接线形两侧根部平缓区的直线即可扣除背底当衍射峰。难以确定衍射线两侧的平底时，可用标准物质的背底作为样品测量的背底。然后才能从上面可以通过分析衍射线的线位,衍射线的高度(峰值)以及衍射线的宽度来得到一些结论.（一）衍射线的线位衍射线的线位确定方法主要有以下三种。1.图形法这种方法可以由图中确定衍射线的线位。根据线形的情况可以有不同的确定方法[2]。（1）长线法，这是在衍射峰不很明显的情况下用的，两侧的直线部位，两虚线交于一点，过点作横坐标的垂线，对应的2θ数值为衍射线的线位。（2）顶点法，衍射峰很明显时，可以直接由最高点做横坐标的垂线，得出此线位。（3）弦中法，在最大强度的3/4、2/3、1/2处做平等于背底的弦，从弦的中点作背底的垂线，对应的2θ数值为衍射线的线位。2.近似