基于专利共被引的世界500强企业技术竞争的专利地图分析.docx

基于专利共被引的世界500强企业技术竞争的专利地图分析基于专利共被引的世界500强企业技术竞争的专利地图分析引言在科学文献的引用行为中，引用动机大多是出于正面因素，例如向开拓者致敬（credittopioneer），对有关著作给予荣誉（honortoliterature）等等，因此科学文献的引用体现出了一种知识的继承关系。与科学文献的引用动机不同的是，专利文献的引用动机则大多旨在指出所引用技术的问题、不足或缺陷，表达着对所引用技术的否定态度[1]，所以专利的引用表达的更多的是技术的竞争关系。技术竞争情报(CompetitiveTechnicalIntelligence)是指能给组织的竞争地位带来重大影响的外部科学或技术的威胁、机会或发展的信息，以及这些信息的获取、监控、分析、前瞻和预警过程[2]。专利计量方法已经成为企业技术竞争情报研究的一种主要手段[3,4]。在此前的研究中，作者通过建立大型专利共被引矩阵，对世界500强中的工业企业的专利发表强度、被引情况、专利共被引网络进行了研究[5]。本文在以往研究的基础上，基于企业专利前向引用构建企业专利共被引矩阵，结合科学计量学领域近年来迅猛发展的信息可视化技术，对世界500强企业进行技术竞争地图分析。1国内外研究现状1.1专利计量方法作者在WebofScience数据库（SCI、SSCI、A&HCI）和中文CNKI中检索专利的相关文献，检索发现，目前关于专利的研究非常多，但主要是从专利法学角度进行的研究，定量分析的研究并不多见，尤其是专利共被引的研究很少，从WebofScience中仅检索到3篇相关论文，CNKI中仅2篇与专利共被引相关的论文（检索时间截至到2012年8月20日）。关于专利的研究主要集中在如下几个方面：（1）专利统计分析专利统计分析是最常见的专利研究方法。包括专利的发明人统计、专利权人统计、专利分类号统计、专利的时序分析等等。（2）专利引用分析早在1949年，Seildel就首次系统地提出专利引用分析的概念[6]。到了1966年，Seidel的设想被Garfield实现。Garfield仿照他创立的科学引文索引（即SCI数据库）的理念，利用美国专利商标局（USPTO）建立专利引文索引（patentcitationindexing）[7]。1994年，Narin正式提出基于专利引用分析的专利计量学的概念[8]。近年来，国内关于专利引用分析的研究也日渐兴盛，例如杨中楷、梁永霞等对专利引用过程中知识活动的研究[9,10]，向希尧、蔡虹基于专利引用对技术溢出的分析[11]。（3）专利共被引分析目前关于专利共被引的研究并不多见。主要有：Mogee等对礼来大药厂的专利进行共被引聚类分析来识别礼来药厂的主要技术前沿[12]；Kuei-KueiLai利用专利共被引分析试图建立新的专利分类系统[13]；国内方面，邱均平等对有机电激发光技术领域的69项高被引专利的共被引分析[14]、以及基于专利权人共被引分析对皮肤洗护类专利进行了研究[4]；王贤文基于专利共被引方法对世界500强中的工业企业的大型专利共被引网络分析[5]。（4）专利内容图分析上述的统计、引用、共被引分析主要来自于科学计量学领域，而专利内容图分析主要是利用信息科学中的数据挖掘技术，深入到专利内容的文本内部。这方面包括ThomsonReuters公司Aureka的专利地图功能、DerwentAnalytics的文本聚类分析功能、亚利桑那大学HsinchunChen开发的基于SOM算法的专利内容地图分析[15]，以及通过对文献关键词聚类建立语义网络来探测新兴技术[16]。整体看来，目前专利计量学在研究方法上以数量统计分析为主，关于引用、共被引的分析方法仍不多见，少数有关专利共被引的研究也只是涉及到某一领域的企业和专利。从未来的发展趋势来看，专利计量研究将更多地融入科学计量学中的引用分析、共被引分析，信息科学中的可视化技术、文本/数据挖掘方法，从而使得研究者们更多地深入专利数据的内部实质，更好地把握技术竞争结构，开展技术竞争情报研究。