一种颗粒粒度检测系统及方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN116008135A(43)申请公布日2023.04.25(21)申请号202210726735.7(22)申请日2022.06.24(71)申请人西安西电高压开关操动机构有限责任公司地址710077陕西省西安市高新区瞪羚谷24号申请人中国西电电气股份有限公司(72)发明人李欢马峰李泽康许艳蒲张润田顾磊(74)专利代理机构西安通大专利代理有限责任公司61200专利代理师贺小停(51)Int.Cl.G01N15/02(2006.01)G01N15/14(2006.01)权利要求书1页说明书6页附图4页(54)发明名称一种颗粒粒度检测系统及方法(57)摘要本发明公开了一种颗粒粒度检测系统及方法，其包括光路单元、多微通道矩阵、线阵列传感器、比较计数电路和计算处理中心。微通道矩阵利用物理结构，将流入通道内的颗粒进行预分离；平行光穿过微通道后就照射在了线阵列传感器上，线阵列传感器将光信号变为电压信号，并经过放大滤波后传入比较计数电路；比较计数电路将进入各通道的线阵列传感器和计算处理中心所设定的阈值进行比较，并将比较后的结果传给计数器，计数器将所计数量传给计算处理中心；计算处理中心处理计数器的统计结果，最终得到颗粒粒度分布。本发明提高了检测的精度，提高了液压系统的可靠性，降低了事故发生率，提高了生产效率。CN116008135ACN116008135A权利要求书1/1页1.一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，包括：光路单元(1)、微通道矩阵(2)、线阵列传感器(3)、比较计数电路(4)和计算处理中心(5)；所述光路单元(1)，用于发出所需的光束，并经过准直后打到微通道上；所述微通道矩阵(2)用于将流入管路内的颗粒，通过物理结构按颗粒粒径进行分级分离；所述线阵列传感器(3)用于将接收透过所述微通道矩阵(2)的光束转化为电压信号，并将其放大滤波后传入比较计数电路(4)；所述比较计数电路(4)，用于将进入各通道的线阵列传感器电压和设定的阈值传入比较器中进行比较，比较器将比较后的结果传给计数器，计数器将所计数量传给计算处理中心；所述计算处理中心(5)，用于给各通道的比较器设置阈值，以及将各计数器传回的计数量进行颗粒粒度统计工作，并最终得到颗粒粒度分布，给出油液污染等级。2.根据权利要求1所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，所述光路单元(1)包括光源(101)和非球面透镜(102)，非球面透镜(102)将光源发出的非平行光变为准直光。3.根据权利要求1所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，所述微通道(2)包括多个用于不同粒径颗粒穿过的通道，多个所述通道均连接总管道(201)，总管道(201)分叉为按照颗粒粒径排列的多个所述通道。4.根据权利要求3所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，多个所述通道主体并排设置，多个所述通道的入口均与总管道(201)连通；多个所述通道从中间向两侧管径依次减小。5.根据权利要求1所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，所述线阵列传感器(3)包括多个相同但空间位置不同的光电传感器(302)和信号处理电路(301)；多个信号处理电路(301)将光电传感器(302)均与信号处理电路(301)电连接；每个光电传感器(302)设置在其对应的所述通道的正下方。6.根据权利要求1所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，所述比较计数电路(4)包括多组对应不同粒径颗粒穿过的通道的比较计数组；每个比较计数组对应一个微通道的一个光电传感器(302)，每个比较计数组包括一套或多套电压通道、比较器和计数器，每个比较计数组下面的一套或多套电压通道都对应微通道下面的光电传感器(302)经过信号处理电路(301)后传来的电压信号。7.根据权利要求6所述的一种颗粒粒度检测系统，其特征在于，所述计算处理中心(5)用于设置不同颗粒粒径对应的电压阈值，传入比较器与电压通道的电压信号进行比较；还用于接收各比较计数组计数结果，并进行统计分析，给出颗粒粒度分布结果。8.一种权利要求1至7任意一项所述的颗粒粒度检测系统的计数方法，包括以下步骤：光源(101)发出一束非平行光，经过非球面透镜(102)之后变为平行光；平行光穿越微通道(2)并打到光电传感器(302)上；光电传感器(302)将光强变化转化为电流信号变化，信号处理电路(301)将电流信号变化转化为电压信号变化；电压信号进入比较计数组中的每一个电压通道上，并与计算处理中心(5)传来的电压阈值进行比较，最终计数器决定计数结果；计算处理中心(5)读取计数器的计数结果，并生成颗粒粒度分布。2CN116008135A说明书1/6页一种颗粒粒度检测系统及方法技术领域[0001]本发明涉及液压机构领域中颗粒粒度分布测量领域，尤其涉及一种颗粒粒度检测系统及