用于样品分析的系统和方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN116018207A(43)申请公布日2023.04.25(21)申请号202180045455.3(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公(22)申请日2021.04.29司72001专利代理师邹松青郭帆扬(30)优先权数据63/0175642020.04.29US(51)Int.Cl.B01L3/00(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日2022.12.26(86)PCT国际申请的申请数据PCT/US2021/0300202021.04.29(87)PCT国际申请的公布数据WO2021/222667EN2021.11.04(71)申请人雅培制药有限公司地址美国伊利诺伊州(72)发明人Y·阿莱T·科莫里吉村彻R·奇巴J·哈夫权利要求书8页说明书29页附图38页(54)发明名称用于样品分析的系统和方法(57)摘要公开了使用测定表面、测定处理单元(APU)、测定处理系统(APS)和实验室系统的样品分析系统和方法。测定表面包括：样品处理部件，所述样品处理部件包括多个区域，所述多个区域包括至少一个洗涤区域和至少一个储存区域，所述储存区域被配置为容纳能够在磁力下移动通过所述区域的多个固体支持物；和检测部件，所述检测部件被配置为接收所述固体支持物。APU包括：测定表面接收部件；磁性元件，所述磁性元件被配置为生成可移动磁场；和一个或多个处理器，所述处理器被配置为移动所述磁场。APS包括一个或多个测定表面和APU。实验室系统包括一个或多个APS和用于平行处理的控制器。公开了样品体积减少和/或处理时间缩短和/或灵敏度更高的样品处理和检测方法。CN116018207ACN116018207A权利要求书1/8页1.一种用于分析样品中感兴趣的分析物的测定表面(AS)，其包括：样品处理部件，所述样品处理部件被配置为处理所述样品以用于检测，其中所述样品处理部件包括多个样品制备区域，所述多个样品制备区域包括被配置为容纳一定体积的液体的至少一个洗涤区域和被配置为容纳多个固体支持物的至少一个储存区域，其中所述多个固体支持物能够在磁力下移动通过所述多个样品制备区域；和检测部件，所述检测部件被配置为通过所述磁力接收所述多个固体支持物并检测所述分析物的存在或确定所述分析物的水平或浓度。2.如权利要求1所述的AS，其中所述多个固体支持物包括磁性或顺磁性微粒或珠子。3.如权利要求1所述的AS，其中所述多个固体支持物中的至少一个与所述感兴趣的分析物或至少一种试剂或缀合物特异性结合。4.如权利要求1所述的AS，其中所述样品处理部件还包括所述至少一个储存区域中的所述多个固体支持物。5.如权利要求1所述的AS，其中所述样品处理部件还包括至少一个混合区域，所述至少一个混合区域被配置为混合所述多个固体支持物、所述感兴趣的分析物和至少一种试剂或缀合物。6.如权利要求5所述的AS，其中所述样品处理部件还包括所述至少一个混合区域中的所述至少一种试剂或缀合物。7.如权利要求5所述的AS，其中所述至少一个混合区域具有约25μL或更小的体积容量。8.如权利要求5所述的AS，其中至少一种试剂选自由以下组成的组：可检测标记、结合成员、染料、表面活性剂、稀释剂及其组合。9.如权利要求8所述的AS，其中所述结合成员包括受体或抗体。10.如权利要求5所述的AS，其中所述至少一个洗涤区域被配置为洗去未与任何固体支持物结合的任何分子。11.如权利要求10所述的AS，其中所述至少一个洗涤区域具有约10μL或更小的体积容量。12.如权利要求1所述的AS，其中所述测定表面包括多个通道，其中所述多个通道中的每一个位于第一样品制备区域与第二样品制备区域之间。13.如权利要求12所述的AS，其中所述测定表面包括多个止动元件，其中所述多个止动元件中的至少一个位于所述第一样品制备区域与所述第二样品制备区域之间。14.如权利要求13所述的AS，其中当去除所述至少一个止动元件时，所述第一区域中的一定体积的液体与所述第二区域中的一定体积的液体以流体方式连接。15.如权利要求10所述的AS，其中在通过所述至少一个洗涤区域后，所述多个固体支持物在所述磁力下移动到所述检测部件中。16.如权利要求1所述的AS，其中所述检测部件被配置用于光学检测、模拟检测或数字检测。17.如权利要求1所述的AS，其中所述检测部件包括元件阵列，其中所述元件阵列中的每个元件被设定尺寸以容纳所述多个固体支持物中的至少一个。18.如权利要求17所述的AS，其中所述元件阵列包括纳米孔阵列。2CN116018207A权利要求书2/8页19.如权利要求1所述的AS，其中所述检测部件还包括包含一定体积的惰性液体的区域，其中所述惰性液体被配置为密封所述纳米孔阵列。20.如权利要求19所