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实验2组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算）一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。2.验证半加器和全加器的逻辑功能。3.学会二进制数的运算规律。二、实验仪器及材料1.Dais或XK实验仪一台2.万用表一台3.器件：74LS00三输入端四与非门3片74LS86三输入端四与或门1片74LS55四输入端双与或门1片三、预习要求1.预习组合逻辑电路的分析方法。2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。3.学习二进制数的运算。四、实验内容1.组合逻辑电路功能测试。图2－1⑴用2片74LS00组成图2－1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。⑵图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管显示。⑶按表2－1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。⑷将运算结果与实验比较。表2－1输入输出ABCY1Y20000000101011111111111010100111011001010实验过程及实验图：1）连线图：2）实验图：实验总结：用两片74ls00芯片可实现如图电路功能2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2－2。图2－2⑴在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。⑵按表2－2要求改变A、B状态，填表。表2－2输入端A0101B0011输出端Y0110Z0001实验过程及实验图：管脚图：实验图（4）实验总结：用异或门（74LS86）和与非门可组成半加器3.测试全加器的逻辑功能。⑴写出图2－3电路的逻辑表达式。⑵根据逻辑表达式列真值表。⑶根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。BiBi,Ci-1000111100001010111AiBi,Ci-1000111100010111010Si=Ci=图2－3⑷填写表2－3各点状态。表2－3AiBiCi-1YZX1X2X3SiCi00000111000100111010100101011011011011010011010110011110111110100111011110111001⑸按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2－4，并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。表2－4AiBiCi-1CiSi0000001001100011101000101011101011011111实验过程及实验图：1）引脚图：2）实验图：实验总结：3个74ls00芯片可构成全加器4.测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或门和一个非门实现。画出用异或门、与或非门和与门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。⑵找出异或门、与或非门和与门器件，按自己画出的图接线。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。⑶当输入端Ai、Bi、Ci－1为下列情况时，用万用表测量Si和Ci的电位并将其转为逻辑状态填入表2－5。表2－5输入端Ai00001111Bi00110011Ci-101010101输出Si01101001Ci00010111实验过程及实验图：Si=A⊕B⊕CCi=AB+BC+AC引脚图：实验图：实验3触发器一、实验目的1．熟悉并掌握R－S、D、J－K触发器的构成，工作原理和功能测试方法。2．学会正确使用触发器集成芯片。3．了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。二、实验仪器及材料双踪示波器一台Dais或XK实验仪一台器件74LS00二输入端四与非门1片74LS74双D触发器1片74LS112双J-K触发器1片实验内容1.基本R－SFF功能测试：两个TTL与非门首尾相接构成的基本R-SFF的电路如图3－1所示。⑴试按下面的顺序在/Sd，/Rd端加信号：/Sd=0/Rd=1/Sd=1/Rd=1/Sd=1/Rd=0/Sd=1/Rd=1观察并记录FF的Q、/Q端的状态，将结果填入下表3－1中，并说明在上述各种输入状态下，FF执行的功能？图3-1基本R－SFF电路表3-1/Sd/RdQ/Q逻辑功能0110置11110保持1001置01101保持⑵/Sd接低电平，/Rd端加脉冲。⑶/Sd接高电平，/Rd端加脉冲。⑷令/Rd=/Sd，/Sd端加脉冲。记录并观察⑵、⑶、⑷三各情况下，Q、/Q端的状态。从中你能否总结出基本R-SFF的Q、/Q端的状态改变和输入端Sd，Rd的关系。⑸当/Sd，/Rd都接低电平时，观察Q、/Q端的状态。当/Sd，/Rd同时由低电平跳为高电平时，注意观察Q、/Q端的状态。重复3~5次看Q、/Q端的状态是否相同，以正确理解“不定”状态的含义。实验过程：1）引脚图：2）实验图