试验参考指导书样本.doc

单片机试验指导书试验一系统认识试验一、试验目标1、了解ZY15MCU12BC2单片机试验开发装置接线和安排。掌握试验箱内拨位开关KF,KC使用方法。2、经过实例程序编辑、编译、链接及调试，熟悉KeilC51软件使用方法和基础操作。3、教育学生珍惜试验装置，养成良好试验习惯。二、试验设备1、ZY15MCU12BC2单片机试验开发装置一台。2、PC机及相关软件。三、试验内容1、使用串行通讯电缆将试验开发装置和PC机相连。2、开启PC机及试验开发装置，开启KeilC51软件进入uVision2集成开发环境。确定拨位开关KF开关为A端，确定89C51处于仿真状态。在uVision2开发平台上建立并编辑示例程序：计算N个数求和程序。其中N个数分别放在片内RAM区50H到55H单元中，N=6，求和结果放在片内RAM区03H(高位)和04H（低位）单元中。题目：1）32H+41H+01H+56H+11H+03H=?2）95H+02H+02H+44H+48H+12H=?编译连接源程序。在KeiluVision2主菜单窗口进入DEBUG调试环境，打开存放器窗口输入数据至片内RAM区50H到55H单元中，全速运行程序，并检验程序运行结果，即观察在存放器窗口片内RAM区03H（高位）、04H(低位)单元中数据是否正确。试验结束，撤出接线，将一切整理复原。试验源程序org0000hljmpmainorg1000hmain:movr2,#06hmovr3,#00hmovr4,#00hmovr0,#50hl1:mova,r4adda,@r0movr4,aincr0clraaddca,r3movr3,adjnzr2,l1end试验二多字节十进制加法试验一、试验目标1、学习51运算指令使用方法及对标志位影响。2、学习循环程序编程方法。3、掌握51内部RAM和寄存器之间关系。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容1、编写多字节十进制加法程序，实现下式运算：４５７４＋６７２８＝11302要求：被加数在片内RAM区20H、21H单元；加数在片内RAM区30H、31H单元；结果在片内RAM区20H(最高位进位)、21H(高位)、22H(低位)单元。结果：20H=1，21H=13，22H=02；2、完成程序设计、编辑、编译、连接。四、调试方法进入DEBUG方法，打开存放器Memory1窗口，在窗口Address栏键入D：20H；点击鼠标右键，选择最终一项ModifyMemory，输入被加数；在窗口Address栏键入D：30H；点击鼠标右键，选择最终一项ModifyMemory，输入加数。（选作）整数十六进制转十进制试验一、试验目标1、了解整数十六进制转十进制原理。2、学会编程实现进制转换。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容1、源文件名称为“ZYBTD.ASM”。2、将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。3、编写并调试一个十六进制转换为十进制数程序，其功效为从ZY15MCU12BC2型试验箱键盘上输入四位十六进制数，转换为6位十进制数并在试验箱显示器上显示出来。四、试验程序参考框图图1所表示图1十六进制转十进制程序步骤注：框图中延时1秒是为了看清显示器上显示十六进制数和BCD码结果五、调试方法1、全速运行至BK1，检验40H，41H，3BH～3EH内容是否为键入数据。2、从BK1全速运行至BK2，再从BK2运行到BK3，检验3AH～3EHBCD码正确是否？如有错从BK2单步运行到BK3，检验程序运行结果。3、全速运行程序，每输入4位十六进制数，显示6位BCD码，用一组数据测试其程序正确性。（选作）查表试验一、试验目标了解编程中查表原理。学会编写查表程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容源文件名称为“ZYTAB.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个查表程序，其功效为读键盘输入0～F数字键，经过查表得到各键处理程序入口，并将入口地址在试验仿真器显示器上显示出来。数字键“0”——8000H数字键“1”——8200H数字键“2”——8400H数字键“3”——8600H数字键“4”——8800H数字键“5”——8A00H数字键“6”——8C00H数字键“7”——8E00H数字键“8”——9000H数字键“9”——9200H数字键“A”——9400H数字键“B”——9600H数字键“C”——9800H数字键“D”——9A00H数字键“E”——9C00H数字键“F”——9E00H四、试验程序参考框图图2所表示图2查表试验步骤五、调试方法断点设在BK1，按0～F键后