习题集-材料现代研究方法12.doc
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第一章X射线衍射分析1、什么是X射线?什么是特征X射线(标识X射线)谱?特征X射线可用于对材料进行哪两方面的分析?X射线与可见光一样,也是电磁波,其波长范围在0.001nm~100nm之间;在X射线谱中,有若干条特定波长的谱线,这些谱线只有当管电压超过一定的数值时才会产生,而这种谱线的波长与管电压、管电流等工作条件无关,只决定于阳极材料,不同元素制成的阳极材料发出不同波长的谱线,因此称之为特征X射线谱或标识X射线谱。特征X射线谱—元素分析——电子探针X射线显微分析的依据。2、根据波尔的原子结构壳层模型,阐
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材料现代研究方法15.差示扫描量热法15.差示扫描量热法15.1.1DSC的测试原理15.1.2功率补偿型DSC曲线方程15.1.3DTA和DSC比较15.2温度和能量校正15.2温度和能量校正15.3应用15.3.2比热容的测定15.3.2比热容的测定15.3.2比热容的测定15.3应用15.3.3玻璃化转变温度的测定15.3.4纯度的测定15.3.4纯度的测定15.3.4纯度的测定15.3.5结晶度(θ)的测定15.3.6固化度(α)的测定15.3.7工艺温度的测定15.3.8共混聚合物鉴定15.3.