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基于量子点光漂白的光学元件亚表面缺陷检测方法及系统.pdf

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本发明涉及光学元件亚表面缺陷的无损检测技术领域,具体涉及一种基于量子点光漂白的光学元件亚表面缺陷检测方法及系统。可以提高光学元件亚表面缺陷检测的准确性和精确性。本发明采用的技术方案为:1)光学元件和量子点标记物表征;2)使用量子点标记光学元件亚表面缺陷;3)光学元件亚表面缺陷荧光检测;4)采集亚表面缺陷荧光图像;5)提取缺陷荧光强度;6)定量分析亚表面缺陷中量子点的抗光漂白特性;7)光学元件亚表面缺陷检测。