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磁光克尔测试装置.pdf

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本发明所提供的磁光克尔测试设备,通过光路调整组件对光路进行调整,可以至少实现被测物的入射光的倾斜程度的调整,实现被测物的测试光入射角的调整;本发明所提供的磁光克尔测试设备,可以实现被测物的入射光在倾斜与垂直方向的切换,打破了入射光为垂直入射、成夹角入射的磁光克尔测试装置之间的隔离,将两种类型的磁光克尔设备融合为同一设备,并实现相应的功能,极大地降低了磁光克尔测试的成本。