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本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种光学器件的检测方法、检测设备以及计算机可读存储介质,方法包括:获取参考采样图像,以及待检测光学器件对应的检测采样图像,其中,参考采样图像和检测采样图像对应的图像采集参数相同;确定参考采样图像中各个角点的第一坐标,以及检测采样图像中各个角点的第二坐标;根据第一坐标和第二坐标,确定参考采样图像和检测采样图像中对应角点之间的畸变向量;根据畸变向量确定待检测光学器件对应的畸变检测结果。通过采集受畸变影响的图像与不受影响的参考图像,检测光学器件的局部畸变。解决了检测准确度和检测成本之间难以平衡的问题。