光学检测系统及其校准方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110967297A(43)申请公布日2020.04.07(21)申请号201811149917.2(22)申请日2018.09.29(71)申请人深圳市帝迈生物技术有限公司地址518055广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道4093号南山云谷创新产业园南风楼2楼B(72)发明人陈俊杰李鑫胡彦勇(74)专利代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280代理人钟子敏(51)Int.Cl.G01N21/01(2006.01)G01M11/02(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图4页(54)发明名称光学检测系统及其校准方法(57)摘要本申请公开了一种光学检测系统，该光学检测系统包括处理器、存储器以及至少两个检测单元，每一检测单元包括发光电路和光传感器，光传感器用于检测发光电路发出的且经过空气介质或者真空的光；处理器与每一发光电路均电连接，处理器与每一光传感器均电连接，处理器与存储器电连接；处理器用于根据不同的控制信号，控制各个发光电路的发光强度，且用于读取各个光传感器的检测值，根据读取到的检测值对对应的控制信号进行校准，以得到各个发光电路的校准后的控制信号，并将各个发光电路的校准后的控制信号按照预定顺序保存至存储器的预定的多个物理地址中。本申请还公开一种光学检测系统的校准方法。通过上述方式，本申请可提高光学检测的准确性。CN110967297ACN110967297A权利要求书1/2页1.一种光学检测系统，其特征在于，所述光学检测系统包括处理器、存储器以及至少两个检测单元，每一所述检测单元包括发光电路和光传感器，所述光传感器用于检测所述发光电路发出的且经过空气介质或者真空的光；所述处理器与每一所述发光电路均电连接，所述处理器与每一所述光传感器均电连接，所述处理器与所述存储器电连接；所述处理器用于根据不同的控制信号，控制各个所述发光电路的发光强度，且用于读取各个所述光传感器的检测值，根据读取到的所述检测值对对应的所述控制信号进行校准，以得到各个发光电路的校准后的控制信号，并将各个所述发光电路的校准后的控制信号按照预定顺序保存至所述存储器的预定的多个物理地址中。2.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述处理器用于按照所述预定顺序从所述存储器的所述预定的多个物理地址中读取各个所述发光电路的所述校准后的控制信号，根据读取到的所述校准后的控制信号依次控制对应所述发光电路的发光强度，并利用所述光传感器检测对应所述发光电路发出的且经过样本容器中的待测样本的光，以对所述待测样本进行光学检测。3.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述处理器根据所述光传感器检测到的所述检测值，调整对应所述发光电路的控制信号，以使所述检测值与预设值的差值在预定范围内，从而得到所述校准后的控制信号。4.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，每一所述发光电路均包括发光二极管、可控开关管以及电阻，所述发光二极管的阳极用于接入工作电压，所述发光二极管的阴极与所述可控开关管的第一通路端电连接，所述可控开关管的控制端连接所述处理器，所述可控开关管的第二通路端连接所述电阻的第一端，所述电阻的第二端接地，所述可控开关管的控制端用于接入所述控制信号，所述可控开关管的第一通路端和第二通路端根据所述控制信号导通或者截止。5.根据权利要求4所述的光学检测系统，其特征在于，所述可控开关管为三极管，所述第一通路端为所述三极管的集电极，所述第二通路端为所述三极管的发射极，所述控制端为所述三极管的基极；或者，所述可控开关管为MOS管，所述第一通路端和所述第二通路端分别为所述MOS管的源极和漏极，所述控制端为所述MOS光的栅极。6.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述控制信号为脉宽调制信号，所述检测值表征光强度大小，所述处理器根据控制信号控制所述发光电路的发光强度，并获取对应的所述光传感器的检测值，将检测值与预设值进行比较，若所述检测值大于所述预设值，则调低所述控制信号的占空比，若所述检测值小于所述预设值，则调高所述控制信号的占空比，直至得到所述校准后的控制信号，使得所述检测值与所述预设值的差值在预设范围内。7.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述光学检测系统进一步包括连接于所述光传感器和所述处理器之间的模数转换器。8.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述光学检测系统进一步包括连接于所述光传感器和所述处理器之间的信号放大器。9.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，各个所述检测单元的发光电路并2CN110967297A权利要求书2/2页联设置。10.一种光学检测系统的校准方法，其特征在于，所述校准方法包括：根据不同的控制信号