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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN103399315A*(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103399315103399315A(43)申请公布日2013.11.20(21)申请号201310296170.4(22)申请日2013.07.13(71)申请人西安电子科技大学地址710071陕西省西安市太白南路2号(72)发明人赵光辉王雪磊石光明李超刘自成温超(74)专利代理机构陕西电子工业专利中心61205代理人王品华朱红星(51)Int.Cl.G01S13/89(2006.01)G01S7/41(2006.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书7页说明书7页附图5页附图5页(54)发明名称实孔径相控阵雷达高分辨探测成像方法(57)摘要本发明公开了一种实孔径相控阵雷达高分辨探测成像方法,主要解决传统相控阵雷达成像系统角度分辨率较低,无法实现对目标区域的高分辨成像的问题。其实现步骤是:(1)根据相控阵雷达工作方式获取回波信号;(2)由回波信号的理想形式构造观测矩阵;(3)根据回波信号与观测矩阵的关系,建立相控阵雷达成像模型;(4)根据目标场景轮廓稀疏的先验信息,利用正则化的方法将雷达成像模型转化为优化模型;(5)将有约束的优化模型转化为无约束的优化表达式,并利用交替方向迭代法进行求解得到最终成像结果。本发明能在减少探测成像次数和探测数据的同时,实现对轮廓特征明显目标区域的高分辨成像,可用于目标识别。CN103399315ACN10395ACN103399315A权利要求书1/2页1.一种实孔径相控阵雷达高分辨探测成像方法,包括如下步骤:(1)根据相控阵雷达工作方式,对整个探测场景进行波束扫描,得到各角度下时域采样后的回波信号列向量其中,θp表示第p个方位角扫描角度,p∈[1,I],I为方位角扫描角度个数;表示第q个俯仰角扫描角度,q∈[1,J],J为俯仰角扫描角度个数;(2)依据相控阵雷达工作方式,构造各角度下的观测矩阵其中,ti∈[t1,tL]表示L点的时域采样;k∈[1,MN]表示待探测二维目标场景离散化采样后的第k个目标,M表示水平方向采样点数,N表示垂直方向采样点数;rk表示第k个目标达到相控阵雷达天线中心的距离,表示波束指向θp,时的方向图函数在第k个目标方向的响应值;c为光速,λ为雷达工作波长;p(ti)为相控阵雷达发射信号包络时域采样;(3)构建相控阵雷达成像模型:3a)将步骤(1)中各个角度得到的回波信号列向量按照扫描角度的顺序排列成一列,得到完整的回波信号列向量:其中,T表示转置;3b)将步骤(2)中各个角度下构造的观测矩阵按照扫描角度的顺序排列成一列,得到完整的观测矩阵:3c)根据相控阵雷达工作方式,当波束指向角度θp,时,将时域采样后的回波信号列向量表示为:其中,f(k)为目标场景离散化采样后第k个目标的散射系数;3d)将步骤(2)中的观测矩阵带入步骤3c)中的回波信号表达式中,得到单个角度下回波信号列向量与构造的观测矩阵之间的数据关系:2CN103399315A权利要求书2/2页其中,f=[f(1)…f(k)…f(MN)]T;3e)根据步骤3d)得到的数据关系,得到完整回波信号列向量g和完整观测矩阵C的数据关系式:g=Cf;若考虑回波信号的噪声,则建立相控阵雷达成像模型为:r=Cf+n,其中,r表示加噪声的完整回波信号列向量,n表示噪声;(4)根据探测目标场景区域轮廓的稀疏先验特征,利用正则化方法将步骤3e)中建立的成像模型转换为优化模型:其中,为目标场景区域的离散梯度,D为图像差分算子,D(1),D(2)分别为水平方向差分算子和垂直方向差分算子,s.t.表示约束条件,表示2范数的平方,表示最小值运算符号,ε为设定误差限;(5)将步骤(4)中有约束的优化模型转化为无约束的优化表达式,然后利用交替方向迭代法求解该优化表达式,得到复系数向量f;(6)对求解得到的复系数向量f取模值,得到成像系数向量对成像系数向量进行排列,得到成像系数矩阵A,即为最终的成像结果。2.根据权利要求1所述的方法,其中步骤4)所述的根据探测目标场景区域轮廓的稀疏先验特征,利用正则化方法将步骤3e)中建立的成像模型转换为优化模型,按如下步骤进行:4a)将步骤3e)中的相控阵雷达成像模型:r=Cf+n,转化为最优化模型:4b)在最优化模型中加入相应的正则项Φ(f):4c)当正则项为全变差时,得到全变差模型:4d)当||Df||取2范数时,即对f做各向同性的离散全变差处理,得到优化模型:3.根据权利要求1所述的方法,其中步骤5)所述的将步骤(4)中的有约束的优化模型转化为无约束的优化表达式,按如下步骤进行:5a)引入松弛变量w,并对w和Df的残差结果进行惩罚约束;5b)结合增广拉格朗日乘子模型,得到如下