一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法及系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105447854A(43)申请公布日2016.03.30(21)申请号201510778646.7(22)申请日2015.11.12(71)申请人程涛地址518060广东省深圳市南山区南海大道3688号申请人冯平(72)发明人程涛冯平刘新辉孙高磊彭涛(74)专利代理机构深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312代理人王利彬(51)Int.Cl.G06T7/00(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图5页(54)发明名称一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法及系统(57)摘要本发明适用于表面缺陷检测技术领域，提供了一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法及系统，所述方法具体为：为了避免受面板边缘和音孔区域高亮的影响，首先提取面板边轮廓和音孔轮廓，在此基础上提取内部区域灰度图像；并进一步得到内部区域特征图，计算特征图灰度均值；基于特征图灰度均值设定阈值进行分割，并对分割后的结果进行BLOB分析，具体地，根据所选面积、长宽比等特征进行判断，排除灰尘等伪缺陷，检测出缺陷。本发明提供的一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法及系统，可检测多种型号的玻璃面板划痕、亮点、凹凸点等缺陷；并且其检测时间短，对于小尺寸玻璃面板轻微划痕等缺陷检测精度高。CN105447854ACN105447854A权利要求书1/2页1.一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：步骤S1，提取玻璃面板表面的灰度图像，并对灰度图像进行预处理；步骤S2，对玻璃面板表面的预处理后的灰度图像进行二值化分割得到若干轮廓特征，若二值化分割后的各轮廓特征的值在预设第一阈值范围内，则提取所述轮廓特征中的面板边缘轮廓和音孔轮廓的二值化图像；步骤S3，对提取的面板边缘轮廓和音孔轮廓二值化图像进行取反，若取反后的区域的参数在预设的第二阈值范围内，则提取面板内部区域二值化图像；并与所述玻璃面板表面的灰度图像相与，进而得到内部区域的灰度图像；步骤S4，对所述内部区域的灰度图像进行开运算，并将内部区域的灰度图像与开运算后的图像相减，得到内部区域特征图；步骤S5，计算内部区域特征图的灰度均值A，并比较|G(i,j)-A|与预设的第三阈值ΔG的大小，其中，G(i,j)为内部区域特征图中像素点(i,j)的灰度值；若|G(i,j)-A|小于第三阈值ΔG，则代表玻璃面板中点(i,j)合格；若|G(i,j)-A|不小于第三阈值ΔG，则代表玻璃面板中该点(i,j)不合格；步骤S6，对内部区域特征图的每个像素点进行二值化，若不合格的像素点组成的连通域在预设的第四阈值范围内，则为伪缺陷；相反，则为真缺陷。2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述预处理具体为滤波、去噪。3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述预设的第一阈值包括所述面板边缘轮廓长度L1的极大值L1max、极小值L1min和面板边缘轮廓所围面积A1的极大值A1max、极小值A1min；所述预设的第一阈值还包括所述音孔轮廓长度L2的极大值L2max、极小值L2min和音孔轮廓所围面积A2的极大值A2max、极小值A2min；所述步骤S2具体为：对玻璃面板表面的预处理后的灰度图像进行二值化分割得到若干轮廓特征，若二值化分割后的各轮廓特征的值满足：或则提取所述轮廓特征中的面板边缘轮廓和音孔轮廓的二值化图像。4.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述预设的第二阈值包括所述面板内部区域轮廓长度L3的极大值L3max、极小值L3min和面板内部区域轮廓所围面积A3的极大值A3max、极小值A3min；所述步骤S3具体为：对提取的面板边缘轮廓和音孔轮廓二值化图像进行取反，若取反后的区域的参数满足：2CN105447854A权利要求书2/2页则提取面板内部区域二值化图像；并与所述玻璃面板表面的灰度图像相与，进而得到内部区域的灰度图像。5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S5中，所述灰度均值A的表达式为：A＝ΣG(i,j)/N；其中，N为内部区域特征图的像素个数。6.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S6中，对每个像素进行二值化后，则有7.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S6中，所述第四阈值包括所述连通域轮廓长宽比L4的极大值L4max、极小值L4min和所述连通域面积A4的极大值A4max、极小值A4min；所述步骤S6具体为：对内部区域特征图的每个像素点进行二值化，若不合格的像素点组成的连通域满足：则为伪缺陷；相反，则为真缺陷。8.一种小尺寸玻璃面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：灰度图像提取模块，用于提取玻璃面