一种恒温控制方法及其恒温装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115454163A(43)申请公布日2022.12.09(21)申请号202211079974.4(22)申请日2022.09.05(71)申请人深圳市威湃创新科技有限公司地址518000广东省深圳市龙岗区吉华街道甘坑社区甘李二路11号中海信创新产业城21栋403(72)发明人应冬冬陈学章王士忠(74)专利代理机构深圳市知太狼知识产权代理有限公司44915专利代理师高晓倩(51)Int.Cl.G05D23/20(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图1页(54)发明名称一种恒温控制方法及其恒温装置(57)摘要本发明提供一种恒温控制方法及其恒温装置，涉及恒温技术领域。本发明通过通过在恒温装置的恒温腔内设置温度传感器时刻监测恒温腔内的温度，并根据恒温腔内的温度是否处于恒温装置的温控目标温度范围内，控制半导体加热制冷器进行加热或制冷，从而维持恒温腔内的温度保持在恒温装置的温控目标温度范围内，为恒温腔内的光器件提供良好的运行温度环境，恒温范围仅仅只有恒温腔内，占用的空间和材料大幅度减少，温度补偿的能量消耗也大幅度减小，降低了成本，从根本上解决了光器件温度管理补偿成本高集成度低的问题。CN115454163ACN115454163A权利要求书1/2页1.一种恒温控制方法，其特征在于，包括如下步骤，步骤1：恒温装置开机，设定恒温腔的温控目标温度范围，并自检温度传感器、半导体加热制冷器是否正常运行；步骤2：当恒温装置自检到温度传感器、半导体加热制冷器正常运行时，恒温装置控制温度传感器获取恒温腔内初始温度；步骤3：恒温装置判断恒温腔内初始温度是否处于恒温装置的温控目标温度范围内；步骤4：当恒温腔内初始温度高于目标温度范围的最大值时，半导体加热制冷器开始制冷工作；当恒温腔内初始温度低于目标温度范围的最小值时，半导体加热制冷器开始制热工作；步骤5：半导体加热制冷器工作第一设定时间后，恒温装置控制温度传感器获取恒温腔内温度并判断是否已经达到温控目标温度范围内；步骤6：当恒温腔内温度已经达到温控目标温度范围内时，恒温装置控制半导体加热制冷器停止工作；步骤7：半导体加热制冷器停止工作第二设定时间后，恒温装置再次控制温度传感器获取恒温腔内温度，并执行步骤3。2.如权利要求1所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤1中，所述温度传感器在恒温装置内设有两个，分别为主传感器和备用传感器，当主传感器出现故障时，备用传感器会替代主传感器进行工作。3.如权利要求2所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤1中，所述半导体加热制冷器在恒温装置内设有4个，称紧贴设置在所述恒温腔的侧面，且相互独立工作。4.如权利要求3所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤5中，当恒温腔内温度高于目标温度范围的最大值切不超过5℃时，或恒温腔内温度低于目标温度范围的最小值切不超过5℃时，恒温装置控制恒温腔两个侧面的半导体加热制冷器各关闭一个。5.如权利要求1所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤5中，当所述半导体加热制冷器有1‑3个出现故障时，恒温装置会控制剩下的未发生故障的半导体加热制冷器继续工作。6.如权利要求5所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤1中，当恒温装置自检到温度传感器、半导体加热制冷器未能正常运行时，发出恒温装置故障告警提示。7.如权利要求6所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤3中，当恒温腔内初始温度处于目标温度范围内时，直接执行步骤7。8.如权利要求7所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤5中，当恒温腔内温度未达到温控目标温度范围内时，继续执行步骤5，即半导体加热制冷器再次工作第一设定时间后，恒温装置控制温度传感器获取恒温腔内温度并判断是否已经达到温控目标温度范围内。9.如权利要求8所述的恒温控制方法，其特征在于：在所述步骤5中，第一设定时间为20s，在所述步骤7中，第2设定时间为10秒。10.一种实现权利要求1‑9任一项所述的恒温控制方法的恒温装置,其特征在于，包括：温度传感器，用于获取恒温腔内的温度；半导体加热制冷器，用于调节恒温腔内的温度；2CN115454163A权利要求书2/2页恒温腔，用于放置光器件。3CN115454163A说明书1/5页一种恒温控制方法及其恒温装置技术领域[0001]本发明涉及恒温技术领域，具体涉及一种恒温控制方法及其恒温装置。背景技术[0002]目前光通信行业对光测试仪表的测量动态范围、稳定性、重复性、线性度的要求越来越高，而光测试仪表中不可避免的需要使用各类光器件，但大多数光器件是温度敏感器件、也即其光特性和参数会随着温度的变化而变化，这与光通信行业的越来越高的要求产生了明显的矛盾。目前一些方案会采用温度补偿的方式来解决这一问题，但这些方案会