一种背钻对准度检测板及其检测方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115164712A(43)申请公布日2022.10.11(21)申请号202210743538.6(22)申请日2022.06.28(71)申请人生益电子股份有限公司地址523127广东省东莞市东城区（同沙）科技工业园同振路33号(72)发明人何醒荣王小平杨凡董凤蕊(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227专利代理师赵菲(51)Int.Cl.G01B7/312(2006.01)H05K3/00(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图2页(54)发明名称一种背钻对准度检测板及其检测方法(57)摘要本发明涉及PCB技术领域，公开了一种背钻对准度检测板及其检测方法。背钻对准度检测板包括电路板本体，电路板本体划分为拟背钻非钻穿层和拟背钻钻穿层；在拟背钻非钻穿层，于拟制作一钻孔外周制作有第一测试环，且第一测试环沿孔周向划分为相互断开的至少两段第一弧形分段；在拟背钻钻穿层，于拟制作背钻孔外周制作第二测试环，且第二测试环沿孔周向划分为相互断开的至少两段第二弧形分段。本发明实施例摒弃了目测和切片操作，能够完全杜绝目测检测方式和切片检测方式存在的工作量大、主观性强及检查结果较为片面的缺陷，而且不仅能够检测出一钻孔与背钻孔的绝对偏移情况，还能够分析得到一钻孔与背钻孔的相对偏移情况，检测结果有效且精准。CN115164712ACN115164712A权利要求书1/2页1.一种背钻对准度检测板，其特征在于，包括电路板本体，所述电路板本体沿背钻钻孔方向划分为至少一层拟未被背钻钻穿的拟背钻非钻穿层和至少一层拟被背钻钻穿的拟背钻钻穿层；在所述电路板本体的拟背钻非钻穿层，于拟制作一钻孔的第一理论制作位置的外周制作有第一测试环，且所述第一测试环沿拟制作一钻孔的周向划分为相互断开的至少两段第一弧形分段；在所述电路板本体的拟背钻钻穿层，于拟制作背钻孔的第二理论制作位置的外周制作第二测试环，且所述第二测试环沿拟制作背钻孔的周向划分为相互断开的至少两段第二弧形分段；其中，所述第一理论制作位置与所述第二理论制作位置为同轴设置。2.根据权利要求1所述的背钻对准度检测板，其特征在于，所述第一测试环与所述第二测试环的划分方式相同，使得各个所述第一弧形分段与各个所述第二弧形分段按照上下位置一一对应。3.根据权利要求2所述的背钻对准度检测板，其特征在于，所述电路板本体上还制作有至少两组测试单元，每组测试单元与一组上下位置对应的第一弧形分段第二弧形分段相对应。4.根据权利要求3所述的背钻对准度检测板，其特征在于，所述测试单元包括第一金属化测试孔、第二金属化测试孔和第三金属化测试孔；所述第一金属化测试孔与对应的第一弧形分段在弧长方向上的一端电连接，所述第二金属化测试孔与对应的第一弧形分段在弧长方向上的另一端、以及对应的第二弧形分段在弧长方向的一端同时电连接，第三金属化测试孔与对应的第二弧形分段在弧长方向的另一端电连接。5.根据权利要求4所述的背钻对准度检测板，其特征在于，所述第二金属化测试孔贯穿对应的第一弧形分段在弧长方向上的另一端。6.根据权利要求1所述的背钻对准度检测板，其特征在于，所述第一测试环的内径等于所述一钻孔的理论钻孔孔径，宽度等于当前一钻对准度检测等级下的最大允许偏移量；所述第二测试环的内径等于所述背钻孔的理论钻孔孔径，宽度等于当前背钻对准度检测等级下的最大允许偏移量。7.一种背钻对准度检测方法，其特征在于，包括：在如权利要求1至6任一项所述的背钻对准度检测板的电路板本体上，先按所述第一理论制作位置制作一钻孔，再按所述第二理论制作位置制作背钻孔；检测所述第一测试环的各个第一弧形分段是否被钻断，据此判断所述一钻孔的绝对偏移信息；检测所述第二测试环的各个第二弧形分段是否被钻断，据此判断所述背钻孔的绝对偏移信息；所述绝对偏移信息包括偏移量范围和偏移方向；根据所述一钻孔的绝对偏移信息和所述背钻孔的绝对偏移信息，分析得到所述一钻孔与所述背钻孔的相对偏移信息。8.根据权利要求7所述的背钻对准度检测方法，其特征在于，所述第一测试环与所述第二测试环的划分方式相同，使得各个所述第一弧形分段与各个所述第二弧形分段上下位置2CN115164712A权利要求书2/2页一一对应；所述电路板本体上还制作有至少两组测试单元，每组测试单元与一组上下位置对应的第一弧形分段第二弧形分段相对应；所述测试单元包括第一金属化测试孔、第二金属化测试孔和第三金属化测试孔；所述第一金属化测试孔与对应的第一弧形分段在弧长方向上的一端电连接，所述第二金属化测试孔与对应的第一弧形分段在弧长方向上的另一端、以及对应的第二弧形分段在弧长方向的一端同时电连接，第三金属化测试孔与对应的第二弧形分段在弧长方向的另一端电连接；根据各个所述测试单元中