纳米颗粒粒径测量系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108287126A(43)申请公布日2018.07.17(21)申请号201810243972.1(22)申请日2018.03.23(71)申请人中国计量科学研究院地址100029北京市朝阳区北三环东路18号(72)发明人黄鹭高思田施玉书李伟李琪(74)专利代理机构北京华进京联知识产权代理有限公司11606代理人赵永辉(51)Int.Cl.G01N15/02(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图6页(54)发明名称纳米颗粒粒径测量系统(57)摘要本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统，激光光源将激光从入射装置中发出，入射光通过入射光通孔射入散射发生装置。散射发生装置设置有多个入射光通孔与多个出射光通孔。多个入射光通孔与多个所述出射光通孔设置于同一水平面。每个信号探测接收器对应一个所述出射光通孔，用于接收出射光通孔发出的出射光。纳米颗粒粒径测量系统在多个角度上对待测纳米颗粒的同一散射中心进行同时测量，能获得散射中心纳米颗粒的更多有效信息，尤其对于双峰分布的颗粒体系，测量更加准确。此外，纳米颗粒粒径测量系统内设置有偏振光路，通过测量偏振入射光经过散射体后偏振方向的改变，实现对棒状纳米颗粒的长径比的测量求解。CN108287126ACN108287126A权利要求书1/2页1.一种纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，包括：光入射装置(20)，用以改变入射光的入射角度；散射发生装置(30)，所述散射发生装置(30)设置有多个入射光通孔(310)与多个出射光通孔(320)，入射光通过所述入射光通孔(310)射入所述散射发生装置(30)，所述多个入射光通孔(310)与所述多个所述出射光通孔(320)设置于同一水平面，且所述多个入射光通孔(310)与所述多个出射光通孔(320)的轴线相交于同一中心点；多个信号探测接收器(40)，安装于所述散射发生装置(30)，每个所述信号探测接收器(40)对应一个所述出射光通孔(320)，用于接收所述出射光通孔(320)发出的出射光；多个光子计数器(50)，每个所述光子计数器(50)与一个所述信号探测接收器(40)连接，用以检测光脉冲信号功率；以及支承装置(70)，所述支承装置(70)与所述光入射装置(20)可拆卸连接，所述支承装置(70)与所述散射发生装置(30)可拆卸连接，所述支承装置(70)与多个所述光子计数器(50)可拆卸连接。2.如权利要求1所述的纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，所述光入射装置(20)包括：底座(210)，安装于所述支承装置(70)，所述底座(210)开设有水平移动槽(220)；伸缩轴(230)，设置于所述水平移动槽(220)内，并能够在所述水平移动槽(220)内移动；支撑板(240)，开设有第一孔位(241)，所述伸缩轴(230)嵌套于所述第一孔位(241)；以及光纤接口(250)，固定设置于所述支撑板(240)，用以光纤连接激光光源(10)。3.如权利要求2所述的纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，所述光入射装置(20)还包括：偏振滤波器框架(260)，固定设置于所述支撑板(240)，所述偏振滤波器框架(260)设置于所述光纤接口(250)靠近所述入射光通孔(310)一端，用以放置偏振滤波器。4.如权利要求1所述的纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，所述散射发生装置(30)包括：暗箱(330)，包括第一环形侧板(331)，所述第一环形侧板(331)包围形成一个具有第一开口(332)的第一收纳空间(333)，所述多个入射光通孔(310)设置于所述第一环形侧板(331)，所述多个出射光通孔(320)设置于所述第一环形侧板(331)，且所述多个入射光通孔(310)与所述多个出射光通孔(320)设置于同一水平面；温控器(340)，设置于所述第一收纳空间(333)，用以控制温度平衡，所述暗箱(330)与所述温控器(340)之间设置有绝缘垫(338)，所述温控器(340)包括辐射套筒(341)，所述辐射套筒(341)包围形成具有第二开口(342)的第二收纳空间(343)；样品台(350)，设置于所述第二收纳空间(343)，用以放置样品池，且所述样品台(350)与所述暗箱(330)同轴设置；以及暗箱底座(360)，与所述暗箱(330)可拆卸连接，所述暗箱底座(360)与所述样品台(350)可拆卸连接，所述暗箱底座(360)开设有第二孔位(361)，用以将所述暗箱(330)固定于所述支承装置(70)。2CN108287126A权利要求书2/2页5.如权利要求4所述的纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，所述暗箱(330)还包括：端盖(334)，与所述第一开口(332)匹配设置，用以将所述第一收纳空间(333)避光密封；